您好,欢迎进入山东威申电子科技有限公司网站!
一键分享网站到:
您现在的位置:首页 >> 新闻动态 >> 壁厚测厚仪采用非破坏性的测量方式
壁厚测厚仪采用非破坏性的测量方式
浏览次数:18发布日期:2022-01-12
  壁厚测厚仪采用非破坏性的测量方式,不受材料的形状影响,快速测量形状复杂和不同大小的物体的各种位置,用于测量非铁类的材料(例如塑料、玻璃、合成材料、铝及钛等)。
  壁厚测厚仪仪器装上电池后,按下“ON/OFF”按键开机,校准片调零,等液晶显示屏上显示"0"时,仪器自动进入测量状态,直接将测头垂直并快速紧压到工件表面的涂镀层上,仪器通过测头自动测量出涂层厚度,并通过显示屏把厚度值显示出来。(注意:测量时注意测头保持垂直)
  壁厚测厚仪测量原理:
  霍尔效应是电磁效应的一种。具体是指当电流垂直于外磁场通电半导体时,载流子会发生偏转。垂直于电流和磁场的方向会产生一定的附加电场,这种电场会在半导体的两端产生电势差。这种现象被称为霍尔效应,这种电势差被称为霍尔电势差。霍尔效应和传统的电磁感应完全不同,当电流通过磁场中的导体时。磁场会对导体中的电子产生一个垂直于电子运动方向的作用力。在垂直于导体与磁感线的两个方向产生电势差。而壁厚测厚仪正是应用这种电势差原理来检测涂层的厚度。
  壁厚测厚仪注意事项:
  1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。
  2、测量时侧头与试样表面保持垂直。
  3、测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。
  4、测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。
  5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场,如果会将会干扰磁性测厚法。
  6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量,因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
  7、在测量时要保持压力的恒定,否则会影响测量的读数。
  8、在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触,因此壁厚测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
    QQ在线客服
  •   在线咨询
  • 点击这里给我发消息
电话
86-0531-85910832
手机
13153198163